用于表面纵向缺陷的的检测
具备基本功能CIRCOGRAPH DI 可确保如 同CIRCOGRAPH CI 相同的检测质量，但该系统上舍弃了集成的操作计算机。CIRCOGRAPH DI系统可以选项方式升级其他功能，如存档功能。
通过外部连接的操作计算机进行操作、管理和存档。该系统确保对半成品材料表面上纵向瑕疵的精密检测。不同的旋转头系统确保可满足不同的检测任务。紧凑型结构的CIRCOGRAPH DI 几乎可集成在任何生产环境中。
优势一览：
- 紧凑型结构实现轻松集成生产流程
- 通过外部操作计算机便捷操作
- 通用检验系统，可根据定制应用和要求进行调整
- 双通道检测系统
- 无缝，连续检测
- 检测灵敏度： 30 微米以上
- 直观的操作软件
技术参数
| 检测材料： | 铁磁性、非铁磁性和奥氏体材料 |
| 传感器系统： | 旋转头，最多带有两个（Ro 20 和 Ro 35）相对布置的探头 |
| 检测频率： | 30 千赫兹 - 1 兆赫兹 |
| 最大检测速度： | 3 米/秒 |
| 检测灵敏度： | Ro 20 / Ro 35 30 微米以上 |
